Scanning Electron Microscopy Scanning Electron Microscopy
Scanning Electron Microscopy Scanning Electron Microscopy
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扫描电子显微镜 扫描电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
C. Swyt
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Sem Inc;R. Leapman;K. E. Gorlen;C. Swyt
电子能量损失谱的处理包括数据采集和分析。分析电子显微镜与专用于数据采集的卫星微型计算机的实验室计算机的接口使系统具有高度的灵活性。在频谱采集中，可以在特定的核心边缘周围选择通道，或者可以将停留时间作为能量损失的函数连续变化，以减小信号的动态范围。数据传输到主计算机允许进一步的分析，如通过频谱反褶积去除多重散射。元素图和线扫描可以通过实时处理每个像素的能量损失数据来记录。可以通过像素强度直方图分析图像以提供定量信息。如果在每h像素处存储背景参数，则有时可以对图像数据进行进一步处理以提高信噪比。
Processing in electron energy loss spectroscopy involves both data acquisition and analysis . The interface of an analytical electron mi croscope to a laboratory computer with a satellite microcomputer dedicated to data acquisition results in a system with a high degre e of flexibility. In spectrum acquisition, channel s may be selected around specific core edges, or dwell times may be varied continuous l y as a function of energy loss to reduce the dynamic range of the signal. Data transfer to the host co mputer allows furt her analysis such as the removal of plural scattering by spectral deconvolution. Elemental maps and line-scans can be recorded with real-time processing of energy loss data at each pixel. Images may be analyzed to provide quantitative information by means of pixel intensity histograms. If para met ers for the background are stored at eac h pixel, the image data may sometimes be further processed to improve the signal-to-noise ratio.
电子能量损失谱的并行记录。
影响因子：
2.2
作者：
Shuman,H
通讯作者：
Shuman,H
铁蛋白的能量过滤透射电子显微镜。
DOI：
10.1073/pnas.79.1.106
发表时间：
1982
影响因子：
11.1
作者：
Shuman,H;Somlyo,AP
通讯作者：
Somlyo,AP