The effect of work function during electron spectroscopy measurements in Scanning Field-Emission Microscopy.
The effect of work function during electron spectroscopy measurements in Scanning Field-Emission Microscopy.
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扫描场发射显微镜中电子能谱测量过程中功函数的影响。
DOI：
10.1016/j.ultramic.2022.113547
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
Bodik M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Bodik M
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影响因子：
4
作者：
Thamm，A. -K.;Wei，J.;El-Gomati，M. M.
通讯作者：
El-Gomati，M. M.
柱面镜分析仪 (CMA) 中电子内部散射的来源
DOI：
--
发表时间：
1996
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Gomati;T. A. E. Bakush
通讯作者：
T. A. E. Bakush
扫描隧道显微镜场发射体系中的光谱显微镜
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
作者：
G. Bertolini
通讯作者：
G. Bertolini
Ag(001) 上 K 和 Cs 的 EELS：覆盖范围内电子结构突然变化的证据
DOI：
--
发表时间：
1991
期刊：
影响因子：
--
作者：
J. Matthew;F. Netzer;G. Astl
通讯作者：
G. Astl
扫描场发射显微镜二次电子成像对比度达 30%
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
Proceedings of the Royal Society A
影响因子：
--
作者：
D. A. Zanin;L. G. D. Pietro;Quentin Peter;A. Kostanyan;H. Cabrera;Alessandro Vindigni;T. Bähler;D. Pescia;U. Ramsperger
通讯作者：
U. Ramsperger