Formation of Defect Structures in Au-polysilane Interfaces probed by slow energy positron beam
Formation of Defect Structures in Au-polysilane Interfaces probed by slow energy positron beam
复制标题
慢能正电子束探测金-聚硅烷界面缺陷结构的形成
DOI:
--
复制
发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Yoshitake Terashima
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Yoshitake Terashima
登录
查看更多内容
DOI:
--
发表时间:
1989
期刊:
影响因子:
--
作者:
V. Hallmark;R. Sooriyakumaran;R. D. Miller;J. Rabolt
通讯作者:
J. Rabolt
DOI:
10.1080/13642819008208650
发表时间:
1990
期刊:
Philosophical Magazine Part B
影响因子:
--
作者:
M. Abkowitz;M. Rice;M. Štolka
通讯作者:
M. Štolka
影响因子:
1.5
作者:
A. Fujii;K. Yoshimoto;Masayoshi Yoshida;Y. Ohmori;K. Yoshino
通讯作者:
K. Yoshino
影响因子:
5.5
作者:
FURUKAWA, K;FUJINO, M;MATSUMOTO, N
通讯作者:
MATSUMOTO, N
影响因子:
3.3
作者:
S. Seki;Yoshinori Matsui;Y. Yoshida;S. Tagawa;J. Koe;M. Fujiki
通讯作者:
M. Fujiki