Remote laboratories for optical metrology: from the lab to the cloud
Remote laboratories for optical metrology: from the lab to the cloud
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光学计量远程实验室：从实验室到云端
DOI：
10.1117/12.981616
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
G. Pedrini
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
W. Osten;M. Wilke;G. Pedrini
The idea of remote laboratories is reviewed, and the potential of the approach on selected examples with special focus on the field of optical metrology is illustrated. The concept of remote metrology is extended beyond the simple exchange of data between distant laboratories and the remote access to experimental facilities embedded in modern educational concepts. We describe an architecture that provides the opportunity to communicate with and eventually control the physical setup of a remote metrology system. We show that such a concept can be implemented within cloud-computing environments, and may extend their current performance by the access to experimental facilities.
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通过电子实验室为工程专业学生和专业人士提供真实的体验
DOI：
10.1109/educon.2010.5492454
发表时间：
2010
期刊：
IEEE EDUCON 2010 Conference
影响因子：
--
作者：
A. Coble;A. Smallbone;A. Bhave;R. Watson;A. Braumann;M. Kraft
通讯作者：
M. Kraft
影响因子：
1.9
作者：
P. Rastogi;Marc Barillot;Guillermo H. Kaufmann
通讯作者：
Guillermo H. Kaufmann
应用于非光学表面的斜入射干涉测量
DOI：
--
发表时间：
1973
期刊：
影响因子：
--
作者：
K. Birch
通讯作者：
K. Birch
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
Speckle: International Conference on Speckle Metrology
影响因子：
--
作者：
W. Osten
通讯作者：
W. Osten
影响因子：
56.9
作者：
Michael Armbrust;A. Fox;Rean Griffith;A. Joseph;R. Katz;A. Konwinski;Gunho Lee;D. Patterson;
通讯作者：
Michael Armbrust;A. Fox;Rean Griffith;A. Joseph;R. Katz;A. Konwinski;Gunho Lee;D. Patterson;