Characterization of power induced heating and damage in fiber optic probes for near-field scanning optical microscopy.
Characterization of power induced heating and damage in fiber optic probes for near-field scanning optical microscopy.
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近场扫描光学显微镜光纤探针中功率引起的加热和损伤的表征。
DOI：
10.1063/1.2740133
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Dunn,RobertC
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Dickenson,NicholasE;Erickson,ElizabethS;Mooren,OliviaL;Dunn,RobertC
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DOI：
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期刊：
影响因子：
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