Neutron Reflectometry for the Investigation of Self-Diffusion in Amorphous Silicon
Neutron Reflectometry for the Investigation of Self-Diffusion in Amorphous Silicon
复制标题
用于研究非晶硅自扩散的中子反射仪
DOI：
10.4028/www.scientific.net/ddf.363.225
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发表时间：
2015
影响因子：
--
通讯作者：
H. Schmidt
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
F. Strauß;T. Geue;J. Stahn;H. Schmidt
如何测量亚纳米范围内的原子扩散过程
影响因子：
9.4
作者：
H. Schmidt;M. Gupta;T. Gutberlet;J. Stahn;M. Bruns
通讯作者：
M. Bruns
共价非晶固体中的结构弛豫和自扩散：氮化硅作为模型系统
影响因子：
3.2
作者：
H. Schmidt;W. Gruber;T. Gutberlet;M. Ay;J. Stahn;U. Geckle;M. Bruns
通讯作者：
M. Bruns