Highly Sensitive Signal Detection in Stimulated Parametric Emission Microscopy Based on Two-Beam Interferometry
Highly Sensitive Signal Detection in Stimulated Parametric Emission Microscopy Based on Two-Beam Interferometry
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基于两光束干涉测量的受激参量发射显微镜中的高灵敏度信号检测
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Itoh
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Yamagiwa;Y. Ozeki;T. Kawasumi;S. Kajiyama;K. Fukui;K. Itoh
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