Light scattering model for individual sub-100-nm particle size determination in an evanescent field
Light scattering model for individual sub-100-nm particle size determination in an evanescent field
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用于测定倏逝场中单个亚 100 纳米颗粒尺寸的光散射模型
DOI：
10.7567/jjap.55.06jg02
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发表时间：
2016
影响因子：
1.5
通讯作者：
S. Babu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
P. Khajornrungruang;Sevim Korkmaz;Pal Angshuman;Keisuke Suzuki;K. Kimura;S. Babu
在本文中，我们提出了一种通过应用倏逝场来观察和确定粘附在界面上的单个纳米粒子的光学方法。随后，我们开发了一种便携式（~ 350毫米长）实验装置，配备了用于粒子观察的光学显微镜系统。观测到的强度与用亚100 nm粒子在倏逝场中的光散射模型计算得到的强度一致。
In this paper, we propose an optical method for observation and determination of individual nanosized particles that adhere to an interface by applying an evanescent field. Subsequently, we developed a portable (∼350 mm in length) experimental apparatus equipped with an optical microscopy system for particle observation. The observed intensity is consistent with that calculated using a light scattering model of sub-100-nm particles in the evanescent field.
开发用于硅晶片微缺陷检测的倏逝光测量系统
DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
Key Engineering Materials 295-296
影响因子：
--
作者：
S.Takagi;T.Mizuno;T.Tezuka;N.Sugiyama;S.Nakaharai;T.Numata;J.Kogaand.K.Uchida;S.Takahashi
通讯作者：
S.Takahashi