Soft Fault Diagnosis of Analog Circuits via Frequency Response Function Measurements
Soft Fault Diagnosis of Analog Circuits via Frequency Response Function Measurements
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通过频率响应函数测量进行模拟电路的软故障诊断
DOI：
10.1007/s10836-014-5445-9
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发表时间：
2014-04
影响因子：
0.9
通讯作者：
Zhou Qizhong
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xie Yongle;Li Xifeng;Xie Sanshan;Xie Xuan;Zhou Qizhong
本文提出了一种模拟电路单故障和多故障诊断的新方法。该方法能够定位故障元件并评估其参数。它利用频率响应函数（FRF）测量中包含的信息，并专注于尽可能准确地找到被测电路（CUT）的模型。因此，该方法能够得到与诊断测试一致的不同的参数集合，而不是仅一个特定集合。为了实现这一目的，局部多项式的方法被应用和相关的归一化频响函数的开发。所提出的方法是特别适用于预生产阶段，在工艺设计的修正是重要的，诊断时间不是至关重要的。两个实验的例子来阐明所提出的方法，并证明其有效性。
This paper provides a novel method for single and multiple soft fault diagnosis of analog circuits. The method is able to locate the faulty elements and evaluate their parameters. It employs the information contained in the frequency response function (FRF) measurements and focuses on finding models of the circuit under test (CUT) as exact as possible. Consequently, the method is capable of getting different sets of the parameters which are consistent with the diagnostic test, rather than only one specific set. To fulfil this purpose, the local plolynomial approach is applied and the associated normalized FRF is developed.The proposed method is especially suitable at the pre-production stage, where corrections of the technological design are important and the diagnostic time is not crucial. Two experimental examples are presented to clarify the proposed method and prove its efficiency.
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DOI：
10.1109/tim.2012.2197072
发表时间：
2012-05
影响因子：
5.6
作者：
J. Lataire;E. Louarroudi;R. Pintelon
通讯作者：
J. Lataire;E. Louarroudi;R. Pintelon
影响因子：
3
作者：
S. Flego;A. Plastino;A. Plastino
通讯作者：
S. Flego;A. Plastino;A. Plastino
DOI：
10.1007/s10836-012-5284-5
发表时间：
2012-04
期刊：
Journal of Electronic Testing
影响因子：
--
作者：
A. Kavithamani;V. Manikandan;N. Devarajan
通讯作者：
A. Kavithamani;V. Manikandan;N. Devarajan
影响因子：
8.4
作者：
R. Pintelon;J. Schoukens;G. Vandersteen;K. Barbé
通讯作者：
R. Pintelon;J. Schoukens;G. Vandersteen;K. Barbé
影响因子：
5.6
作者：
J. Starzyk;Dong Liu;Zhi-Hong Liu;D. E. Nelson;J. Rutkowski
通讯作者：
J. Starzyk;Dong Liu;Zhi-Hong Liu;D. E. Nelson;J. Rutkowski