Development of Hall Thruster Life Time Measurement Method Using Multilayer Coating Chip
Development of Hall Thruster Life Time Measurement Method Using Multilayer Coating Chip
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利用多层涂层芯片的霍尔推进器寿命测量方法的开发
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Kobayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Yokota;Y. Fukushima;R. Tsukizaki;K. Komurasaki;Y. Arakawa;A. Kobayashi
DOI：
10.2514/6.2005-3530
发表时间：
2005
期刊：
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影响因子：
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作者：
J. Yim;M. Keidar;I. Boyd
通讯作者：
I. Boyd
低能 Xe 轰击导致氮化硼、石英和 Kapton 的不同溅射产率（预印本）
DOI：
10.2514/6.2007-5314
发表时间：
2007
期刊：
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影响因子：
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作者：
A. Yalin;B. Rubin;S. Domingue;Zach Glueckert;John D. Williams
通讯作者：
John D. Williams