Sub-0.1 nm-resolution quantitative scanning transmission electron microscopy without adjustable parameters
Sub-0.1 nm-resolution quantitative scanning transmission electron microscopy without adjustable parameters
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亚 0.1 nm 分辨率定量扫描透射电子显微镜，无需可调参数
DOI：
10.1063/1.4711766
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发表时间：
2012
影响因子：
4
通讯作者：
J. Etheridge
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
C. Dwyer;C. Maunders;C. Zheng;M. Weyland;P. Tiemeijer;J. Etheridge
扫描透射电子显微镜（STEM）中的原子分辨率成像构成了纳米结构表征的强大工具。在这里，我们展示了原子分辨率高角度环形暗场（ADF）STEM图像的定量解释使用的方法，不依赖于可调参数。我们独立测量的仪器参数，影响子0.1 nm分辨率的ADF图像，量化他们的个人和集体的图像强度的贡献，并表明，这些参数的知识，使所有可访问的空间频率的绝对强度和对比度的定量解释。该分析也为现场测量STEM的有效源分布提供了一种方法。
Atomic-resolution imaging in the scanning transmission electron microscope (STEM) constitutes a powerful tool for nanostructure characterization. Here, we demonstrate the quantitative interpretation of atomic-resolution high-angle annular dark-field (ADF) STEM images using an approach that does not rely on adjustable parameters. We measure independently the instrumental parameters that affect sub-0.1 nm-resolution ADF images, quantify their individual and collective contributions to the image intensity, and show that knowledge of these parameters enables a quantitative interpretation of the absolute intensity and contrast across all accessible spatial frequencies. The analysis also provides a method for the in-situ measurement of the STEM’s effective source distribution.
影响因子：
8.6
作者：
Bosman, M.;Keast, V. J.;Allen, L. J.
通讯作者：
Allen, L. J.