Calibration procedures for charge-coupled device x-ray detectors
Calibration procedures for charge-coupled device x-ray detectors
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电荷耦合器件 X 射线探测器的校准程序
DOI：
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
E. Eikenberry
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Barna;M. Tate;S. Gruner;E. Eikenberry
校准程序与电子X射线探测器的使用，重点是基于光纤耦合电荷耦合器件的探测器。方法是详细的去除虚假的事件，像素marticles，暗电流，空间失真，和强度响应的变化，小角度和广角应用。校准程序的准确性进行了讨论。
Calibration procedures are described for use with electronic x-ray detectors, with an emphasis on detectors based on fiber-optically coupled charge-coupled devices. Methods are detailed for removing spurious events, pixel pedestals, dark-current, spatial distortion, and intensity response variations for both small-angle and wide-angle applications. The accuracy of the calibration procedures is discussed.
使用 CCD 探测器和同步加速器辐射进行高分辨率大分子结构测定。
DOI：
10.1016/s0969-2126(01)00218-0
发表时间：
1995
期刊：
Structure (London, England : 1993)
影响因子：
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作者：
Walter,RL;Thiel,DJ;Barna,SL;Tate,MW;Wall,ME;Eikenberry,EF;Gruner,SM;Ealick,SE
通讯作者：
Ealick,SE