Exploring the Mysteries of System-Level Test
Exploring the Mysteries of System-Level Test
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探索系统级测试的奥秘
DOI：
10.1109/ats49688.2020.9301557
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Wagner, Stefan
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Polian, Ilia;Anders, Jens;Becker, Steffen;Bernardi, Paolo;Chakrabarty, Krishnendu;ElHamawy, Nourhan;Sauer, Matthias;Singh, Adit;Reorda, Matteo Sonza;Wagner, Stefan
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有效利用机器学习加速系统级测试故障调试
DOI：
10.1109/itc44170.2019.9000163
发表时间：
2019
期刊：
2019 IEEE International Test Conference (ITC)
影响因子：
--
作者：
Luis D. Rojas;Kevin C. Hess;Christina Carter
通讯作者：
Christina Carter
使用电路行为模型生成电源病毒
DOI：
10.1109/vts.2007.49
发表时间：
2007
期刊：
25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07)
影响因子：
--
作者：
K. Najeeb;V. Vardhan;R. Konda;S. Kumar;S. Hari;V. Kamakoti;V. Vedula
通讯作者：
V. Vedula
电源噪声：原因、影响和测试
DOI：
10.1166/jolpe.2010.1075
发表时间：
2010
期刊：
J. Low Power Electron.
影响因子：
--
作者：
I. Polian
通讯作者：
I. Polian
复杂微处理器核心测试程序生成的新进化技术
DOI：
10.1145/1068009.1068370
发表时间：
2005
期刊：
2017 IEEE 26th Asian Test Symposium (ATS)
影响因子：
--
作者：
E. Sánchez;M. Schillaci;M. Reorda;Giovanni Squillero;L. Sterpone;M. Violante
通讯作者：
M. Violante
最大限度地减少针对低电压 DVFS 故障的系统级测试的自适应方法
DOI：
10.1109/itc44170.2019.9000173
发表时间：
2019
期刊：
2019 IEEE International Test Conference (ITC
影响因子：
--
作者：
Singh, Adit D.
通讯作者：
Singh, Adit D.