An Adaptive Approach to Minimize System Level Tests Targeting Low Voltage DVFS Failures
An Adaptive Approach to Minimize System Level Tests Targeting Low Voltage DVFS Failures
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最大限度地减少针对低电压 DVFS 故障的系统级测试的自适应方法
DOI：
10.1109/itc44170.2019.9000173
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Singh, Adit D.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Singh, Adit D.
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32 纳米笔记本处理器的细胞感知生产测试结果
DOI：
10.1109/test.2012.6401533
发表时间：
2012
期刊：
2012 IEEE International Test Conference
影响因子：
--
作者：
F. Hapke;Michael Reese;J. Rivers;A. Over;V. Ravikumar;W. Redemund;Andreas Glowatz;J. Schlöffel;J. Rajski
通讯作者：
J. Rajski
交流扫描测试期间校准时钟延伸
DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
IEEE International Conference on Test, 2005.
影响因子：
--
作者：
J. Rearick;R. Rodgers
通讯作者：
R. Rodgers
适应适应性测试
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
Design, Automation and Test in Europe
影响因子：
--
作者：
E. Marinissen;A. Singh;Daniel Glotter;Marco Esposito;J. Carulli;A. Nahar;K. Butler;D. Appello;Chris Portelli
通讯作者：
Chris Portelli
细胞感知测试
DOI：
10.1109/tcad.2014.2323216
发表时间：
2014
影响因子：
2.9
作者：
F. Hapke;W. Redemund;Andreas Glowatz;J. Rajski;Michael Reese;M. Hustava;Martin Keim;J. Schlöffel;A. Fast
通讯作者：
A. Fast
DPPM 减少方法和新的缺陷导向测试方法应用于先进 FinFET 技术
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
Will Howell;F. Hapke;Edward Brazil;S. Venkataraman;R. Datta;Andreas Glowatz;W. Redemund;J. Schmerberg;A. Fast;J. Rajski
通讯作者：
J. Rajski