Charge density analysis of SiO_2 under pressure over 50GPa using new diamond anvil cell
Charge density analysis of SiO_2 under pressure over 50GPa using new diamond anvil cell
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使用新型金刚石砧池在超过 50GPa 的压力下分析 SiO_2 的电荷密度
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
H.Sumiya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Yamanaka;T.Fukuda Y.Komatsu;H.Sumiya
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通过分子轨道计算研究金红石型SiO2、GeO2和SnO2的键特性
DOI：
10.1524/zkri.2000.215.7.419
发表时间：
2000
期刊：
Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials
影响因子：
--
作者：
T. Yamanaka;J. Mimaki;T. Tsuchiya
通讯作者：
T. Tsuchiya
用于单晶分析的新型金刚石砧座
影响因子：
1.6
作者：
T. Yamanaka;T. Fukuda;T. Hattori;H. Sumiya
通讯作者：
H. Sumiya
SiO2：α-石英和石英的局部 s、p 和 d 电荷分布和 X 射线发射带
DOI：
10.1088/0953-8984/5/7/013
发表时间：
1993
期刊：
Journal of Physics: Condensed Matter
影响因子：
--
作者：
A. Šimůnek;J. Vackár;G. Wiech
通讯作者：
G. Wiech
金红石型SiO2、GeO2、SnO2键合特性的X射线衍射研究
DOI：
10.1524/zkri.2000.215.7.424
发表时间：
2000
期刊：
Zeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials
影响因子：
--
作者：
T. Yamanaka;R. Kurashima;J. Mimaki
通讯作者：
J. Mimaki
来自球形原子 X 射线细化的净原子电荷和分子偶极矩，以及原子电荷和形状之间的关系
DOI：
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发表时间：
1979
期刊：
影响因子：
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作者：
P. Coppens;T. Row;P. Leung;E. Stevens;P. Becker;Y. W. Yang
通讯作者：
Y. W. Yang