Sub-Sampled Imaging for STEM: Maximising Image Speed, Resolution and Precision Through Reconstruction Parameter Refinement.
Sub-Sampled Imaging for STEM: Maximising Image Speed, Resolution and Precision Through Reconstruction Parameter Refinement.
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STEM 子采样成像：通过重构参数细化最大限度地提高图像速度、分辨率和精度。
作者：
D. Nicholls;Jack Wells;A. Stevens;Yalin Zheng;J. Castagna;N. Browning
DOI：
10.1093/jmicro/dfp052
发表时间：
2010-04-01
期刊：
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
影响因子：
--
作者：
Buban, James P.;Ramasse, Quentin;Stahlberg, Henning
通讯作者：
Stahlberg, Henning