New method for measuring beam profiles using a parametric X-ray pinhole camera
New method for measuring beam profiles using a parametric X-ray pinhole camera
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使用参数化 X 射线针孔相机测量光束轮廓的新方法
DOI：
10.1016/j.physleta.2013.07.035
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Sumitani
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Takabayashi;K. Sumitani
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晶体中相对论性电子的参量 X 射线辐射的精细结构
影响因子：
2.6
作者：
A. V. Shchagin;V. I. Pristupa;N. Khizhnyak
通讯作者：
N. Khizhnyak
DOI：
--
发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
--
作者：
R. Fiorito;D. Rule
通讯作者：
D. Rule
通过成像板观察参量 X 射线辐射
DOI：
10.1016/j.nimb.2012.02.021
发表时间：
2012
影响因子：
1.3
作者：
Y. Takabayashi;A. V. Shchagin
通讯作者：
A. V. Shchagin
首次观察到硅晶体中中等相对论性质子和碳核产生的参量 X 射线
DOI：
10.1016/j.nimb.2006.07.012
发表时间：
2006
影响因子：
1.3
作者：
Y. Adischev;S. Afanasiev;V. Boiko;A. N. Efimov;Y. Efremov;A. Gogolev;A. Kovalenko;Y. Pivovarov;A. Potylitsyn;S. Romanov;Sh.Z. Saifulin;E. Silaev;A. Taratin;S. Timoshenkov;S. Uglov;V. Volkov;M. Voevodin;V. Zabaev
通讯作者：
V. Zabaev
镶嵌石墨和单硅晶体中高阶参量 X 射线光谱的观察。
影响因子：
8.6
作者：
Fiorito;Rule;Maruyama;DiNova;Evertson;Osborne;Snyder;Rietdyk;Piestrup;Ho
通讯作者：
Ho