Imaging of large-scale integrated circuits using laser terahertz emission microcopy

Imaging of large-scale integrated circuits using laser terahertz emission microcopy
复制标题

使用太赫兹激光发射显微镜对大规模集成电路进行成像

DOI:
--
复制
发表时间:
2005
期刊:
OPTICS EXPRESS 13・1
影响因子:
--
通讯作者:
M.Yamashita
M.Yamashita
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Li;ZE;Yeong;Hee;CHO;Yusuke;KAWAKAMI;M.Yamashita

文献摘要

参考文献

被引文献

相似文献

通过光电导采样对毫米波对数周期天线进行宽带表征
DOI: 10.1109/8.280719
发表时间: 1994
影响因子: 5.7
作者:
M. Gitin;F. Wise;G. Arjavalingam;Y. Pastol;R. Compton
通讯作者: R. Compton
使用聚焦激光束加热进行 LSI 故障分析
DOI: 10.1016/s0026-2714(97)00017-6
发表时间: 1997
影响因子: 1.6
作者:
K. Nikawa;S. Inoue
通讯作者: S. Inoue
使用飞秒激光脉冲激发的太赫兹辐射观察 YBa 2 Cu 3 O 7 2 d 薄膜中的超电流分布
DOI: --
发表时间: 1999
期刊: --
影响因子: --
作者:
S. Shikii;T. Kondo;M. Yamashita;M. Tonouchi;M. Hangyob;K. Sakai
通讯作者: K. Sakai
用于电流成像的扫描 SQUID 显微镜
DOI: --
发表时间: 2001
期刊: Microelectronics and reliability
影响因子: --
作者:
L. A. Knauss;A. B. Cawthorne;N. Lettsome;S. Kelly;S. Chatraphorn;E. Fleet;F. Wellstood;W. Vanderlinde
通讯作者: W. Vanderlinde
激光 SQUID 显微镜作为检查、监测和分析 LSI 芯片缺陷的新工具:无损和非电接触技术
DOI: --
发表时间: 2002
影响因子: 0.5
作者:
K. Nikawa
通讯作者: K. Nikawa