Imaging of large-scale integrated circuits using laser terahertz emission microcopy
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使用太赫兹激光发射显微镜对大规模集成电路进行成像
DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
M.Yamashita
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Li;ZE;Yeong;Hee;CHO;Yusuke;KAWAKAMI;M.Yamashita
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影响因子:
5.7
作者:
M. Gitin;F. Wise;G. Arjavalingam;Y. Pastol;R. Compton
通讯作者:
R. Compton
影响因子:
1.6
作者:
K. Nikawa;S. Inoue
通讯作者:
S. Inoue
DOI:
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发表时间:
1999
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
S. Shikii;T. Kondo;M. Yamashita;M. Tonouchi;M. Hangyob;K. Sakai
通讯作者:
K. Sakai
DOI:
--
发表时间:
2001
期刊:
Microelectronics and reliability
影响因子:
--
作者:
L. A. Knauss;A. B. Cawthorne;N. Lettsome;S. Kelly;S. Chatraphorn;E. Fleet;F. Wellstood;W. Vanderlinde
通讯作者:
W. Vanderlinde
影响因子:
0.5
作者:
K. Nikawa
通讯作者:
K. Nikawa