Analytical Comparison of 3-Level 2-Phase and Double-Step-Down Topologies for Integrated High-Ratio DC-DC Converters in BCD and GaN Process
Analytical Comparison of 3-Level 2-Phase and Double-Step-Down Topologies for Integrated High-Ratio DC-DC Converters in BCD and GaN Process
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BCD 和 GaN 工艺中集成高比率 DC-DC 转换器的 3 级 2 相和双降压拓扑的分析比较
DOI:
10.1109/ecce50734.2022.9947818
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发表时间:
2022
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Huang, Cheng
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Khan, Muhammad Rizwan;Zhang, Xin;Huang, Cheng
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DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
European Solid-State Circuits Conference
影响因子:
--
作者:
Li;Shao;Ke;Ying;Shian;Tsung
通讯作者:
Tsung
DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
INTELEC 05 - Twenty-Seventh International Telecommunications Conference
影响因子:
--
作者:
K. Nishijima;K. Harada;T. Nakano;T. Nabeshima;T. Sato
通讯作者:
T. Sato
DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
European Conference on Cognitive Ergonomics
影响因子:
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作者:
Pradeep S. Shenoy;Orlando Lazaro;Mike Amaro;R. Ramani;W. Wiktor;B. Lynch;J. Khayat
通讯作者:
J. Khayat
DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
International Electron Devices Meeting
影响因子:
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作者:
X. Li;S. Stoffels;B. Bakeroot;D. Wellekens;B. Vanhove;T. Cosnier;R. Langer;D. Marcon;G. Groeseneken;S. Decoutere;N. Amirifar;K. Geens;M. Zhao;W. Guo;H. Liang;S. You;N. Posthuma;B. D. Jaeger
通讯作者:
B. D. Jaeger
DOI:
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发表时间:
2022
期刊:
IEEE Transactions on Circuits and Systems Part 1: Regular Papers
影响因子:
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作者:
Sijie Pan;P. Mok
通讯作者:
P. Mok