Atomically Resolved Imaging of Epitaxial CaF_2 on Si (111) Using Noncontact Atomic Force Microscope
Atomically Resolved Imaging of Epitaxial CaF_2 on Si (111) Using Noncontact Atomic Force Microscope
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使用非接触原子力显微镜对 Si (111) 上外延 CaF_2 进行原子分辨成像
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yoshihide Seino
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.A.Kim;T.Hayashi;M.Endo;Y.kaburagi;T.Tsukada;J.Shan;K.Osato;S.Tsuruoka;R Nishi;Ryuji Nishi;Yoshihide Seino
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6.7
作者：
A. Foster;A. Shluger;R. Nieminen
通讯作者：
R. Nieminen
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DOI：
10.1088/0953-8984/13/10/303
发表时间：
2001
期刊：
Journal of Physics: Condensed Matter
影响因子：
--
作者：
C. Barth;A. Foster;M. Reichling;A. Shluger
通讯作者：
A. Shluger
影响因子：
8.6
作者：
A. Foster;A. Y. Gal;J. Gale;Y. J. Lee;R. Nieminen;A. Shluger
通讯作者：
A. Shluger
解决绝缘表面阶梯边缘处的离子和空位
影响因子：
1.9
作者：
C. Barth;M. Reichling
通讯作者：
M. Reichling