Self-consistent Particle Modeling of Inductively-coupled CF_4 Discharge : Effect of Wafer Biasing

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电感耦合 CF_4 放电的自洽粒子建模:晶圆偏置的影响

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Japanese Journal of Applied Physics 45
影响因子:
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通讯作者:
K.Nanbu
K.Nanbu
中科院分区:
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文献类型:
--
作者:
H.Takekida;K.Nanbu

文献摘要

参考文献

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