XRD analysis of strain states in epitaxial YSZ/RE2O3 (RE=Y, Er) multilayers as a function of layer thickness
XRD analysis of strain states in epitaxial YSZ/RE2O3 (RE=Y, Er) multilayers as a function of layer thickness
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外延 YSZ/RE2O3 (RE=Y, Er) 多层膜中应变状态与层厚度函数关系的 XRD 分析
DOI：
10.1016/j.ssi.2014.09.012
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发表时间：
--
影响因子：
3.2
通讯作者：
D. Stolten
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Keppner;C. Korte;J. Schubert;W. Zander;M. Ziegner;D. Hesse;H. Aydin;D. Stolten
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DOI：
10.1039/c0cp01018a
发表时间：
2010-10
期刊：
Physical chemistry chemical physics : PCCP
影响因子：
--
作者：
N. Schichtel;C. Korte;D. Hesse;N. Zakharov;B. Butz;D. Gerthsen;J. Janek
通讯作者：
N. Schichtel;C. Korte;D. Hesse;N. Zakharov;B. Butz;D. Gerthsen;J. Janek
薄层中的 X 射线应力梯度分析：问题及其解决方案的尝试
DOI：
--
发表时间：
1997
期刊：
影响因子：
--
作者：
C. Genzel
通讯作者：
C. Genzel
采用共振法研究 SOFC 电解质的高温弹性模量和内摩擦
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
作者：
T. Kushi;Kazuhisa Sato;A. Unemoto;K. Amezawa;T. Kawada
通讯作者：
T. Kawada
激光烧蚀与溅射制备YBCO薄膜的比较
DOI：
--
发表时间：
1990
期刊：
影响因子：
--
作者：
B. Stritzker;J. Schubert;U. Poppe;W. Zander;U. Krüger;A. Lubig;C. Buchal
通讯作者：
C. Buchal
分子束合成单晶蓝宝石上生长的晶体氧化钇和氧化镧薄膜的结构和缺陷的透射电子显微镜研究
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Tsuchiya;N. Bojarczuk;S. Guha;S. Ramanathan
通讯作者：
S. Ramanathan