On the Wavelet Analysis of the Oscillatory Phenomena in He II Film Boiling
On the Wavelet Analysis of the Oscillatory Phenomena in He II Film Boiling
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He II膜沸腾振荡现象的小波分析
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
P.Zhang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Tamura;T.Hamaguchi;S.Tokura;Y.Tsujii;P.Zhang
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He II 中不同热条件下的噪声膜沸腾研究
DOI：
10.1007/978-1-4615-4215-5_8
发表时间：
2000
期刊：
Advances in cryogenic engineering
影响因子：
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作者：
Peng;M. Murakami;Ruzhu Wang;Y. Takashima
通讯作者：
Y. Takashima
He II 中从饱和蒸气压到 1 ATM 的静水压力下的各种膜沸腾状态
DOI：
10.1007/978-1-4757-9047-4_178
发表时间：
1998
期刊：
Advances in cryogenic engineering
影响因子：
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作者：
M. Murakami;M. Yamaguchi;N. Yanase;H. Inaba
通讯作者：
H. Inaba
He II 中高瞬态热流体动力学现象的实验研究
DOI：
10.11501/3117632
发表时间：
1996
期刊：
影响因子：
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作者：
島崎 毅
通讯作者：
島崎 毅
He II 中薄膜沸腾引起的液柱振荡和汽泡振荡研究
DOI：
10.1088/0022-3727/34/22/314
发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
--
作者：
P. Zhang;M. Murakami;Ruzhu Wang
通讯作者：
Ruzhu Wang
加压 He II 通道中的热声振荡
DOI：
10.1016/s0011-2275(02)00047-4
发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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作者：
Hisayasu Kobayashi;Yoichi Suganuma;Hideyuki Yoshida;Y. Matsubara;A. Tominaga
通讯作者：
A. Tominaga