Measurement of femtosecond atomic lifetimes using ion traps
Measurement of femtosecond atomic lifetimes using ion traps
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使用离子阱测量飞秒原子寿命
DOI：
10.1007/s00340-013-5586-z
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
E. Träbert
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
E. Träbert
描述了两种类型的实验，都采用电子束离子阱的生产高度带电的离子物种的目的，然后在飞秒范围内测量原子级的寿命。在一个实验中（由Beiersdorfer et al.一段时间以前），寿命测量取决于相关的谱线展宽。在斯坦福大学的直线加速器相干光源最近的一系列实验中，HI-LIGHT合作使用FEL作为短脉冲X射线激光器的泵浦-探测激发。
Two types of experiment are described that both employ an electron beam ion trap for the production of highly charged ion species with the aim of then measuring atomic level lifetimes in the femtosecond range. In one experiment (done by Beiersdorfer et al. some time ago), the lifetime measurement depends on the associated line broadening. In a recent string of experiments at Linac Coherent Light Source Stanford, the HI-LIGHT collaboration employed pump-probe excitation using the FEL as a short-pulse X-ray laser.
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