Locally testable codes via high-dimensional expanders

Locally testable codes via high-dimensional expanders
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通过高维扩展器进行本地可测试代码

DOI:
--
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发表时间:
2020
期刊:
Electronic colloquium on computational complexity
影响因子:
--
通讯作者:
Ron-Zewi, N.
Ron-Zewi, N.
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Dikstein, Y;Dinur, I;Harsha, P;Ron-Zewi, N.

文献摘要

参考文献

被引文献

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