Millimeter- to decimeter-scale compositional mapping using a scanning X-ray analytical microscope and its application to a reaction zone in high-grade metamorphic roc
Millimeter- to decimeter-scale compositional mapping using a scanning X-ray analytical microscope and its application to a reaction zone in high-grade metamorphic roc
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使用扫描X射线分析显微镜进行毫米至分米尺度的成分测绘及其在高级变质岩反应区中的应用
DOI：
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发表时间：
2014
影响因子：
0.7
通讯作者：
Atsushi Okamoto and Noriyoshi Tsuchiya
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Masaoki Uno;Atsushi Okamoto and Noriyoshi Tsuchiya
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