Conductive-tip Atomic Force Microscopy of CdSe Colloidal Nanodots
Conductive-tip Atomic Force Microscopy of CdSe Colloidal Nanodots
复制标题
CdSe 胶体纳米点的导电尖端原子力显微镜
DOI:
--
复制
发表时间:
2003
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
I.Kamiya
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Ichiro Tanaka;Eri Kawasaki;O.Ohtsuki;K.Uno;M.Hara;H.Asami;I.Kamiya
登录
查看更多内容
影响因子:
1.6
作者:
Jaegeun Noh;Kazutoshi Kobayashi;Haiwon Lee;M. Hara
通讯作者:
M. Hara
影响因子:
3.7
作者:
Millo, O;Katz, D;Banin, U
通讯作者:
Banin, U
影响因子:
4
作者:
Alperson, B;Rubinstein, I;Millo, O
通讯作者:
Millo, O
影响因子:
3.7
作者:
Bakkers, EPAM;Vanmaekelbergh, D
通讯作者:
Vanmaekelbergh, D
影响因子:
1.5
作者:
S. Maenosono;C. Dushkin;S. Saita;Y. Yamaguchi
通讯作者:
Y. Yamaguchi