3D IC における遅延故障検査容易化設計用のクロック制御回路について
3D IC における遅延故障検査容易化設計用のクロック制御回路について
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关于时钟控制电路设计以方便3D IC中的延迟故障测试
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
橋爪 正樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
福田 康介;四柳 浩之;橋爪 正樹
大规模电路布局
DOI：
10.1145/1059876.1059886
发表时间：
2005
期刊：
ACM Trans. Design Autom. Electr. Syst.
影响因子：
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作者：
J. Cong;J. Shinnerl;M. Xie;Tim Kong;Xin Yuan
通讯作者：
Xin Yuan