COUNTING THE LAYER NUMBER OF FREE-STANDING MONTMORILLONITE NANOSHEETS USING ANNULAR DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
COUNTING THE LAYER NUMBER OF FREE-STANDING MONTMORILLONITE NANOSHEETS USING ANNULAR DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
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使用环形暗场扫描透射电子显微镜计算独立式蒙脱石纳米片的层数
DOI：
10.11362/jcssjclayscience.23.3_41
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Tetsu Yonezawa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ikumi Akita;Yohei Ishida;Tetsu Yonezawa
在这份报告中，我们展示了用环状暗场(ADF)扫描电子显微镜(STEM)直接测定独立蒙脱土(MMT)纳米片的层数。根据ADF对比度的不同，成功地计算出沉积在多孔碳涂层网格上的自支撑蒙脱土纳米片的层数从单层到四层不等。同时，常规的透射电子显微镜和亮场扫描电子显微镜由于对比度低，很难计算出层数。因此，ADF-STEM有可能应用于通过原子尺度成像进一步研究粘土纳米片及其分子络合物，以加深对粘土纳米片化学的理解。
In this report, we demonstrate the direct determination of the layer number of free-standing montmorillonite (MMT) nanosheets using annular dark field (ADF) scanning transmission electron microscopy (STEM). The layer number of the free-standing MMT nanosheets deposited on a holey carbon-coated grid was successfully counted to range from monolayer to four layers by the difference in the ADF contrast. Meanwhile, counting of the layer numbers was difficult using conventional TEM and bright field STEM due to the low contrast. Therefore, ADF–STEM can potentially be applied to further investigate the clay nanosheets and their molecular complexes by the atomic scale imaging for a deeper understanding of clay-nanosheet-based chemistry.
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DOI：
10.2465/minerj.18.131
发表时间：
1996
期刊：
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影响因子：
--
作者：
T. Kogure;T. Murakami
通讯作者：
T. Murakami
影响因子：
5.2
作者：
Takafumi Takahashi;T. Ohkubo;Kensuke Suzuki;Y. Ikeda
通讯作者：
Takafumi Takahashi;T. Ohkubo;Kensuke Suzuki;Y. Ikeda
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DOI：
10.1093/jmicro/dfq003
发表时间：
2010
期刊：
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影响因子：
--
作者：
T. Kogure;E. Okunishi
通讯作者：
E. Okunishi
影响因子：
64.8
作者：
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通讯作者：
Iijima, S
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DOI：
--
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
作者：
Y. Ishida;Ikumi Akita;T. Pons;T. Yonezawa;N. Hildebrandt
通讯作者：
N. Hildebrandt