Measurement of the Hyperfine Structure and Zeeman Shift in YI by High-Resolution Diode-Laser Spectroscopy
Measurement of the Hyperfine Structure and Zeeman Shift in YI by High-Resolution Diode-Laser Spectroscopy
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利用高分辨率二极管激光光谱测量 YI 中的超精细结构和塞曼位移
DOI:
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发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
et al.
中科院分区:
文献类型:
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作者:
H.Nakada;W.G.Jin;et al.
DOI:
10.1007/bfb0044554
发表时间:
1982
期刊:
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影响因子:
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作者:
S. Büttgenbach
通讯作者:
S. Büttgenbach
影响因子:
2.9
作者:
W. Jin;Toshiaki Endo;H. Uematsu;T. Minowa;H. Katsuragawa
通讯作者:
H. Katsuragawa