Simulation and Evaluation of Plasmonic Circuits
Simulation and Evaluation of Plasmonic Circuits
复制标题
等离激元电路的仿真和评估
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Fukuda and Y. Ishikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tomitsuka Yuma;Yamanashi Yuki;Zen Nobuyuki;Ohkubo Masataka;Yoshikawa Nobuyuki;Tomohiro Tamura and Kazuyoshi Ueno;M. Fukuda and Y. Ishikawa
影响因子：
1.7
作者：
Fukuda, M.;Tonooka, Y.;Ota, M.
通讯作者：
Ota, M.