Imaging Structural Damage of Bacteria on Antibacterial Copper – a Scanning Electron Microscopy Study Using FIB Cross-Sectioning
Imaging Structural Damage of Bacteria on Antibacterial Copper – a Scanning Electron Microscopy Study Using FIB Cross-Sectioning
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使用 FIB 横截面对细菌对抗菌铜的结构损伤进行成像 - 扫描电子显微镜研究
DOI:
10.3139/147.110339
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
F. Mücklich
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
M. Hans;A.L. Rojan;F. Mücklich
DOI:
--
发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
--
作者:
C. Burkhardt;W. Nisch
通讯作者:
W. Nisch
DOI:
10.1002/1097-4636(20001215)52:4
发表时间:
2000-12-15
期刊:
JOURNAL OF BIOMEDICAL MATERIALS RESEARCH
影响因子:
--
作者:
Feng, QL;Wu, J;Kim, JO
通讯作者:
Kim, JO