Imaging Structural Damage of Bacteria on Antibacterial Copper – a Scanning Electron Microscopy Study Using FIB Cross-Sectioning

Imaging Structural Damage of Bacteria on Antibacterial Copper – a Scanning Electron Microscopy Study Using FIB Cross-Sectioning
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使用 FIB 横截面对细菌对抗菌铜的结构损伤进行成像 - 扫描电子显微镜研究

DOI:
10.3139/147.110339
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发表时间:
2015
期刊:
Practical Metallography
影响因子:
--
通讯作者:
F. Mücklich
F. Mücklich
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
M. Hans;A.L. Rojan;F. Mücklich

文献摘要

参考文献

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DOI: --
发表时间: 2005
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影响因子: --
作者:
C. Burkhardt;W. Nisch
通讯作者: W. Nisch
DOI: 10.1002/1097-4636(20001215)52:4
发表时间: 2000-12-15
期刊: JOURNAL OF BIOMEDICAL MATERIALS RESEARCH
影响因子: --
作者:
Feng, QL;Wu, J;Kim, JO
通讯作者: Kim, JO