Defect analysis by statistical fitting to 3D atomic maps.
Defect analysis by statistical fitting to 3D atomic maps.
复制标题
通过统计拟合 3D 原子图进行缺陷分析
DOI：
10.1016/j.ultramic.2012.12.020
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
G. Schmitz
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Z. Balogh;C. Oberdorfer;M.R. Chellali;P. Stender;S. Nowak;G. Schmitz
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G. Schmitz
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D. Beke
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通讯作者：
Erdelyi, Zoltan