Electron Channeling X-ray Microanalysis for Site Occupation in β-FeSi2

Electron Channeling X-ray Microanalysis for Site Occupation in β-FeSi2
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β-FeSi2 中位点占据的电子通道 X 射线微量分析

DOI:
--
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发表时间:
2003
期刊:
HRTEM Reports, CIA, Nagasaki University 6
影响因子:
--
通讯作者:
M.Hasaka
M.Hasaka
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
T.Morimura;M.Hasaka

文献摘要

参考文献

被引文献

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