Curvelets for surface characterization
Curvelets for surface characterization
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用于表面表征的曲率
DOI：
10.1063/1.2437726
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发表时间：
2007-02
影响因子：
4
通讯作者：
Jianwei Ma
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Jianwei Ma
表面计量学是一门测量表面小尺度特征的科学，它对摩擦学、流体力学、光学和制造等许多学科都很重要。小波在函数曲面上的应用越来越受到人们的关注。遗憾的是，传统的小波仅在表示点奇异性方面有很好的表现，因为它们忽略了带有划痕的表面的几何性质，没有利用曲线的规则性。本文提出了一种结合全变差最小化的第二代曲波变换来刻画沿C2奇点具有一般划痕的表面。在生物工程表面上验证了该几何多尺度方法的有效性。
Surface metrology is the science of measuring small-scale features on surfaces, which is important to many disciplines including tribology, fluid mechanics, optics, and manufacturing. Applications of wavelets on functional surfaces have become an increasing interest. Unfortunately, the traditional wavelets have good performance only at representing point singularities because they ignore the geometric properties of surfaces with scratches and do not exploit the regularity of curves. In this letter, a second-generation curvelet transform combined with total variation minimization is proposed to characterize surfaces with general scratches along C2 singularities. The ability of the developed geometric multiscale method is demonstrated on bioengineering surfaces.
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DOI：
10.1098/rspa.2000.0613
发表时间：
2000-09
期刊：
Proceedings of the Royal Society of London. Series A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences
影响因子：
--
作者：
X. Jiang;L. Blunt;K. Stout
通讯作者：
X. Jiang;L. Blunt;K. Stout
影响因子：
2.5
作者：
R. Coifman;A. Sowa
通讯作者：
R. Coifman;A. Sowa
影响因子：
4
作者：
RUDIN, LI;OSHER, S;FATEMI, E
通讯作者：
FATEMI, E
影响因子：
8.2
作者：
Jianwei Ma;A. Antoniadis;F. L. Dimet
通讯作者：
Jianwei Ma;A. Antoniadis;F. L. Dimet
DOI：
10.1109/icip.2001.958937
发表时间：
2001-10
期刊：
Proceedings 2001 International Conference on Image Processing (Cat. No.01CH37205)
影响因子：
--
作者：
Jean-Luc Starck;E. Candès;D. Donoho
通讯作者：
Jean-Luc Starck;E. Candès;D. Donoho