Effect of TaOx thickness on the resistive switching of Ta/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt films
Effect of TaOx thickness on the resistive switching of Ta/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt films
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TaOx厚度对Ta/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt薄膜阻变的影响
DOI：
10.1063/1.3700806
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发表时间：
2012-04
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Ziyu Liu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ziyu Liu
通过改变反应性Ta电极的厚度，研究了界面结构对Ta/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt薄膜电阻开关行为的影响。结构和成分分析表明，在界面处形成TaOx层
The influence of interfacial structure on the resistance switching behavior of Ta/Pr0.7Ca0.3MnO3/Pt films was investigated by varying the reactive Ta electrode thickness. Structure and component analyses revealed that a TaOx layer formed at the interface
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