Spatially resolved electrical characterisation of graphene layers by an evanescent field microwave microscope
Spatially resolved electrical characterisation of graphene layers by an evanescent field microwave microscope
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通过倏逝场微波显微镜对石墨烯层进行空间分辨电学表征
DOI：
10.1016/j.physe.2012.10.006
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Gregory A
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Gregory A
近场扫描微波显微镜的尖端-样品距离控制
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
--
作者：
Myungsick Kim;Songhui Kim;Jooyoung Kim;Kiejin Lee;B. Friedman;Jin;Jaekwang Lee
通讯作者：
Jaekwang Lee
扫描近场光学显微镜中剪切力相互作用的光谱学。
影响因子：
2.2
作者：
S. Hoppe;G. Ctistis;J. Paggel;P. Fumagalli
通讯作者：
P. Fumagalli