Profilometry using optical microwaves with different carrier frequencies and two-photon absorption process of photodetector
Profilometry using optical microwaves with different carrier frequencies and two-photon absorption process of photodetector
复制标题
利用不同载波频率的光学微波和光电探测器的双光子吸收过程进行轮廓测量
DOI：
10.1109/lpt.2005.859120
复制
发表时间：
2005
影响因子：
2.6
通讯作者：
T. Kurokawa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Tanaka;N. Sako;S. Imoto;T. Kurokawa
我们展示和评估一种新的轮廓术的基础上，一对不同波长的光学微波和双光子吸收过程中的光电探测器。通过使用具有0.1、1、10和100 m的路径长度差的光纤系统来确认操作原理。测量的准确度优于10/sup-4/，这与先前使用正交偏振光学微波的系统相当。
We demonstrate and evaluate a novel profilometry based on a pair of optical microwaves with different wavelengths and two-photon absorption process in a photodetector. The operation principle is confirmed by using a fiber-optic system with a path length difference of 0.1, 1, 10, and 100 m. The accuracy was measured to be better than 10/sup -4/, which is comparable to the previously demonstrated system using orthogonally polarized optical microwave.
基于硅雪崩光电二极管中双光子吸收的轮廓测量法
DOI：
--
发表时间：
2002
期刊：
Optics Letters vol.28, no.6
影响因子：
--
作者：
Y.Tanaka;N.Sako;T.Kuorkawa
通讯作者：
T.Kuorkawa