Investigation of surface potentials in reduced graphene oxide flake by Kelvin probe force microscope
Investigation of surface potentials in reduced graphene oxide flake by Kelvin probe force microscope
复制标题
用开尔文探针力显微镜研究还原氧化石墨烯片的表面电势
DOI：
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发表时间：
2018
影响因子：
1.5
通讯作者：
Ryota Negishi,Kai Takashima and Yoshihiro Kobayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuto Moritake;Yoshiaki Kanamori;and Kazuhiro Hane;Ryota Negishi,Kai Takashima and Yoshihiro Kobayashi
影响因子：
10.8
作者：
Graf, D.;Molitor, F.;Wirtz, L.
通讯作者：
Wirtz, L.