Kelvin probe force microscope with near-field photoexcitation
Kelvin probe force microscope with near-field photoexcitation
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具有近场光激发功能的开尔文探针力显微镜
DOI：
10.1063/1.3373430
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发表时间：
2010
影响因子：
3.2
通讯作者：
M. Hara
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Ozasa;S. Nemoto;M. Maeda;M. Hara
我们研制了一种组合探针显微镜--扫描探针近场光学显微镜（SNOM）与开尔文探针力显微镜（KFM）的组合，该显微镜使用细长弯曲的光纤探针（S/B光纤探针）。所开发的SNOM-KFM系统能够在KFM测量过程中通过S/B光纤探针的顶点实现近场光激发，从而可以以亚微米的空间分辨率测量光激发对表面电位（SP）的影响。通过对三（8-羟基喹啉）铝（III）（Alq 3）薄膜的SP测量，发现S/B光纤探针的KFM传递函数有较大的负值。通过S/B光纤探针对Alq 3薄膜进行近场光激发，并利用KFM测量显示SP光致还原的空间模式。
We developed a combined probe microscope—a scanning probe near-field optical microscope (SNOM) combined with Kelvin probe force microscope (KFM) that uses a slim and bent optical fiber probe (S/B fiber probe). The developed SNOM-KFM system enables near-field photoexcitation through an apex of the S/B fiber probe during KFM measurement, so that the photoexcitation effects on surface potential (SP) can be measured with submicron spatial resolution. By measuring the SP of tris(8-hydroxyquinolinato) aluminum(III) (Alq3) thin films, we found that the S/B fiber probes have large negative values in the KFM transfer function. Near-field photoexcitation was performed on Alq3 thin films through the S/B fiber probes, and the spatial pattern of photoinduced reduction in SP was visualized by KFM measurement with the same probe.
影响因子：
2.2
作者：
Takuji Takahashi;Shiano Ono
通讯作者：
Takuji Takahashi;Shiano Ono
影响因子：
3.2
作者：
Ito, E;Washizu, Y;Seki, K
通讯作者：
Seki, K
“蒸发 Alq_3 薄膜中建立的光可擦除巨大表面电势的表征”
DOI：
--
发表时间：
2004
期刊：
Thin Solid Films 464-65
影响因子：
--
作者：
N.Abiko;S.Ogawa;Naofumi Abiko;Satoshi Ogawa;N.Abiko;S.Ogawa;T.Nishikawa;S.Ogawa;Koshi Okamura;石井 久夫;H.Ishii;S.Ogawa;Y.Hosoi;T.Nishikawa;K.Okamura;H.Ishii;H.Ishii;S.Ogawa;S.Ogawa;H.Ishii;石井 久夫;Koshi Okamura;石井 久夫;小川 賢;H.Ishii;K.Sugi
通讯作者：
K.Sugi