Digital Defect Based Built-in Self-Test for Low Dropout Voltage Regulators
Digital Defect Based Built-in Self-Test for Low Dropout Voltage Regulators
复制标题
基于数字缺陷的低压差稳压器内置自测试
DOI：
10.1109/ets48528.2020.9131577
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Ozev, S.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ince, M.;Ozev, S.
基于自适应学习的模拟电路 DPPM 估计重要性采样
影响因子：
2
作者：
E. Yilmaz;S. Ozev
通讯作者：
S. Ozev
用于锁相环的数字内置自测试以实现故障检测
DOI：
10.1109/ets.2019.8791533
发表时间：
2019
期刊：
2019 IEEE European Test Symposium (ETS)
影响因子：
--
作者：
Mehmet Ince;E. Yilmaz;Wei Fu;Joonsung Park;K. Nagaraj;L. Winemberg;S. Ozev
通讯作者：
S. Ozev
影响因子：
2.7
作者：
Schilder, H;Lueken, H
通讯作者：
Lueken, H