Profile estimation for Pt submicron wire on rough Si substrate from experimental data.
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根据实验数据估计粗糙硅衬底上 Pt 亚微米线的轮廓
DOI：
10.1364/oe.20.021678
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
T. Wriedt
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Karamehmedović;P.-E. Hansen;K. Dirscherl;E. Karamehmedović;T. Wriedt
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DOI：
--
发表时间：
2005
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影响因子：
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通讯作者：
T. Wriedt
影响因子：
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通讯作者：
W. Bickel
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
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M. Karamehmedović;P. Hansen;T. Wriedt
通讯作者：
T. Wriedt
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DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Karamehmedović;P. Hansen;T. Wriedt
通讯作者：
T. Wriedt
DOI：
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