Retrieving depth-direction information from TEM diffraction data under reciprocal-space sampling variation.

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在倒易空间采样变化下从 TEM 衍射数据中检索深度方向信息。

DOI:
--
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
2.2
通讯作者:
C. Koch
C. Koch
中科院分区:
工程技术3区
文献类型:
--
作者:
R. Pennington;C. Koch

文献摘要

参考文献

被引文献

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Van den Broek, Wouter;Koch, Christoph T.
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