Retrieving depth-direction information from TEM diffraction data under reciprocal-space sampling variation.
Retrieving depth-direction information from TEM diffraction data under reciprocal-space sampling variation.
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在倒易空间采样变化下从 TEM 衍射数据中检索深度方向信息。
作者:
R. Pennington;C. Koch
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影响因子:
3.7
作者:
R.S. Pennington;W. Van den Broek;C.T. Koch
通讯作者:
C.T. Koch
影响因子:
8.6
作者:
Van den Broek, Wouter;Koch, Christoph T.
通讯作者:
Koch, Christoph T.
影响因子:
2.2
作者:
A. Alpers;R. J. Gardner;S. König;R. S. Pennington;C. B. Boothroyd;L. Houben;R. E. Dunin-Borkowski;K. J. Batenburg
通讯作者:
K. J. Batenburg
影响因子:
3.7
作者:
Van den Broek, Wouter;Koch, Christoph T.
通讯作者:
Koch, Christoph T.