Aberration-corrected differential phase contrast scanning transmission electron microscopy
Aberration-corrected differential phase contrast scanning transmission electron microscopy
复制标题
像差校正微分相差扫描透射电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
N. Shibata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Kubota;Y. Oshio;K. Torii;Y. Okuno;H. Watanabe;S. Cho and I. Funaki;N. Shibata
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影响因子：
16.6
作者：
Ishikawa R;Findlay SD;Seki T;Sánchez-Santolino G;Kohno Y;Ikuhara Y;Shibata N
通讯作者：
Shibata N
通过原子分辨率微分相衬 STEM 进行直接电磁场成像
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
Kuang-Yu Chang;Long-Cheng Huang;Koji Asaga;Pei-Chi Huang;Ming-Shian Tsai;Laura Rego;Luis Plaja;Hiroki Mashiko;Katsuya Oguri;Carlos Hernandez Garcia;and Ming-Chang Chen;今井 陽一;Naoya Shibata
通讯作者：
Naoya Shibata
影响因子：
2.2
作者：
H. Sawada;T. Sannomiya;F. Hosokawa;T. Nakamichi;T. Kaneyama;T. Tomita;Y. Kondo;T. Tanaka;Y. O
通讯作者：
H. Sawada;T. Sannomiya;F. Hosokawa;T. Nakamichi;T. Kaneyama;T. Tomita;Y. Kondo;T. Tanaka;Y. O
影响因子：
2.9
作者：
L. Clark;H. Brown;D. Paganin;M. Morgan;T. Matsumoto;N. Shibata;T. Petersen;S. Findlay
通讯作者：
L. Clark;H. Brown;D. Paganin;M. Morgan;T. Matsumoto;N. Shibata;T. Petersen;S. Findlay
影响因子：
18.3
作者：
N. Shibata;S. Findlay;Takao Matsumoto;Y. Kohno;T. Seki;G. Sánchez-Santolino;Y. Ikuhara
通讯作者：
N. Shibata;S. Findlay;Takao Matsumoto;Y. Kohno;T. Seki;G. Sánchez-Santolino;Y. Ikuhara