Optimized Stress Testing for Flexible Hybrid Electronics Designs

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灵活混合电子设计的优化压力测试

DOI:
10.1109/vts.2019.8758661
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发表时间:
2019
期刊:
2019 IEEE 37th VLSI Test Symposium (VTS
影响因子:
--
通讯作者:
Ozev, Sule
Ozev, Sule
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Gao, Hang;Bhat, Ganapati;Ogras, Umit Y.;Ozev, Sule

文献摘要

参考文献

被引文献

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