Transistor Sizing for Parameter Obfuscation of Analog Circuits Using Satisfiability Modulo Theory
Transistor Sizing for Parameter Obfuscation of Analog Circuits Using Satisfiability Modulo Theory
复制标题
使用可满足性模理论确定模拟电路参数混淆的晶体管尺寸
DOI：
10.1109/apccas.2018.8605710
复制
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Savidis, Ioannis
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Rao, Vaibhav Venugopal;Savidis, Ioannis
DOI：
10.1109/latw.2017.7906739
发表时间：
2017-03
期刊：
2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS)
影响因子：
--
作者：
Vaibhav Venugopal Rao;I. Savidis
通讯作者：
Vaibhav Venugopal Rao;I. Savidis