A New Mura Defect Inspection Way for TFT-LCD Using Level Set Method
A New Mura Defect Inspection Way for TFT-LCD Using Level Set Method
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一种新的水平集法TFT-LCD Mura缺陷检测方法
DOI：
10.1109/lsp.2009.2014113
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发表时间：
2009-03
影响因子：
3.9
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Mura是液晶显示器的一种典型视觉缺陷，表现为局部亮度变化，对比度低，轮廓模糊。提出了一种基于水平集方法的Mura缺陷机器视觉检测方法。首先，一组真实的Gabor滤波器被应用于消除全局纹理背景。在此基础上，采用基于区域的活动轮廓模型对Chan-Vese模型进行改进，使其更适合于Mura的分割，并将水平集方法应用于图像分割。利用水平集分割的部分结果，基于SEMU方法对缺陷进行量化。实验表明，该方法具有较好的Mura检测和量化性能。
Mura is a typical vision defect of LCD panel, appearing as local lightness variation with low contrast and blurry contour. This letter presents a new machine vision inspection way for Mura defect based on the level set method. First, a set of real Gabor filters are applied to eliminating the global textured backgrounds. Then, the level set method is employed for image segmentation with a new region-based active contours model, which is an improvement of the Chan-Vese's model so that it more suitable to the segmentation of Mura. Using some results from the level set based segmentation, the defects are quantified based on the SEMU method. Experiments show that the proposed method has better performance for Mura detection and quantification.
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DOI：
--
发表时间：
2004-10
期刊：
IEICE Trans. Inf. Syst.
影响因子：
--
作者：
J. Y. Lee;S. Yoo
通讯作者：
J. Y. Lee;S. Yoo
影响因子：
9.2
作者：
C.-J. Lu;D.-M. Tsai *
通讯作者：
C.-J. Lu;D.-M. Tsai *
影响因子：
2.4
作者：
Chen, Liang-Chia;Kuo, Chia-Cheng
通讯作者：
Kuo, Chia-Cheng
影响因子：
10.6
作者：
Lie, J;Lysaker, M;Tai, XC
通讯作者：
Tai, XC
影响因子：
1.3
作者：
Ajay Kumar;G. Pang
通讯作者：
Ajay Kumar;G. Pang