Microscale transport physics during atomic force microscopy mass spectrometry and improved sampling efficiency
Microscale transport physics during atomic force microscopy mass spectrometry and improved sampling efficiency
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原子力显微镜质谱分析中的微尺度输运物理并提高采样效率
DOI：
10.1109/transducers.2017.7993978
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
King, William P.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Moon, Hyunkyu;Comi, Troy J.;Dunham, Sage J.;Kwon, Beomjin;Sweedler, Jonathan V.;King, William P.
影响因子：
15
作者：
Comi TJ;Do TD;Rubakhin SS;Sweedler JV
通讯作者：
Sweedler JV