Detection of counterfeited ICs via on-chip sensor and post-fabrication authentication policy
Detection of counterfeited ICs via on-chip sensor and post-fabrication authentication policy
复制标题
通过片上传感器和制造后认证策略检测假冒 IC
DOI：
10.1016/j.vlsi.2018.05.002
复制
发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
Sun, Zeyu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Kim, Taeyoung;Tan, Sheldon X.-D.;Cook, Chase;Sun, Zeyu
用于保护集成电路免遭回收的精确低成本片上结构设计
DOI：
10.1109/tvlsi.2015.2466551
发表时间：
2016
影响因子：
2.8
作者：
Ujjwal Guin;Domenic Forte;M. Tehranipoor
通讯作者：
M. Tehranipoor