Measurement of nano-particle size by evanescent interference field with conventional optical microscope
Measurement of nano-particle size by evanescent interference field with conventional optical microscope
复制标题
常规光学显微镜瞬逝干涉场测量纳米颗粒尺寸
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and Norihiro Umeda
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xiang Yu;Yukihiro Araki;and Norihiro Umeda
使用光子扫描隧道显微镜直接测量驻逝波。
影响因子：
1.9
作者：
A. J. Meixner;M. A. Bopp;G. Tarrach
通讯作者：
G. Tarrach
散射倏逝波的强度和去偏振对激光捕获介电粒子尺寸的依赖性
影响因子：
2.4
作者：
P. Ke;M. Gu
通讯作者：
M. Gu
单一金属纳米粒子的光谱学
DOI：
--
发表时间：
2001
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
C. Sönnichsen;Simon Geier;A. Jakab;T. Wilk;G. Plessen;J. Feldmann
通讯作者：
J. Feldmann